红外测温过程中,( )指设备存在过热,有一定温差,温度场有一定梯度,但不会引起事

admin2022-08-02  43

问题 红外测温过程中,( )指设备存在过热,有一定温差,温度场有一定梯度,但不会引起事故的缺陷。正常缺陷$;$一般缺陷$;$严重缺陷$;$危急缺陷

选项 正常缺陷$;$一般缺陷$;$严重缺陷$;$危急缺陷

答案 B

解析
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