一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。 A.非破坏性检验 B.破坏性检验

题库2022-08-02 87

问题一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。A.非破坏性检验 B.破坏性检验C.全数检验 D.感官检验

选项

答案 B

解析

转载请注明原文地址:https://tihaiku.com/jzgc/1087722.html

本试题收录于：初级质量专业相关知识题库质量工程师分类

初级质量专业相关知识

质量工程师

相关试题推荐

随机试题

最新回复(0)